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日立HITACHI分析儀器XRF鍍層測厚儀X-Strata920,F(xiàn)T110A,F(xiàn)T200系列,F(xiàn)T160

日立HITACHI分析儀器XRF鍍層測厚儀X-Strata920,F(xiàn)T110A,F(xiàn)T200系列,F(xiàn)T160

產品對比

FT160 臺式 XRF 鍍層測厚儀,旨在測量當今 PCB、半導體和微連接器上的微小部件。 準確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產率并避免代價高昂的返工或元件報廢。

X-Strata920

X-Strata920 是一款高精度臺式 XRF 鍍層測厚儀,具有多種選擇,可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上的涂層,適合用于確定產品質量的電子產品、連接器、裝飾品和珠寶分析。

FT110A

FT110A 是一款臺式 XRF 鍍層測厚儀,旨在應對生產中鍍層分析的挑戰(zhàn)。強大的 X 射線熒光技術與自動定位功能相結合,有助于提高電鍍車間的生產力,同時確保組件符合嚴苛標準。

FT200系列

FT200系列旨在簡化和加速零件和組件的測試,從而更輕松地在更短的時間內測量更多零件。 FT200系列具有 Find My Part? (查找我的樣品)智能識別、自動樣品聚焦和廣角攝像頭等功能,可減少設置時間和用戶失誤操作,從而提高通量和生產力。 讓您的 XRF 設備幫您做決定。



FT160 系列

FT160 臺式 XRF 鍍層測厚儀,旨在測量當今 PCB、半導體和微連接器上的微小部件。 準確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產率并避免代價高昂的返工或元件報廢。

X-Strata920
  • 正比計數器或高分辨率 SDD
  • 元素范圍:鈦 - 鈾,或鋁 - 鈾(SDD)
  • 樣品艙設計:開槽式
  • XY 軸樣品臺選擇: 固定臺、加深臺、自動臺
  • *大樣品尺寸:270 x 500 x 150毫米
  • *大數量準直器:6
  • 濾光片:1
  • 可選*小準直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
  • SmartLink 軟件
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FT110A
  • 正比計數器系統(tǒng)
  • 元素范圍:鈦 - 鈾
  • 樣品艙設計:開閉式或開槽式
  • XY 軸樣品臺選擇: 開閉式固定臺、開閉式程控臺、開槽式固定臺、開槽式程控臺
  • *大樣品尺寸:500 x 400 x 150 毫米
  • *大數量準直器:4
  • 濾光片:初級 1,二級(可選)1
  • 可選*小準直器:0.05 毫米
  • X-ray Station 軟件
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FT200系列
  • 高分辨率 SDD或正比計數器
  • 元素范圍:鈦 - 鈾,或鋁 - 鈾(SDD)
  • 樣品艙設計:開閉式或開槽式
  • XY 軸樣品臺選擇: 開閉式固定臺、開閉式程控臺、開槽式固定臺、開槽式程控臺
  • *大樣品尺寸:500 x 400 x 150 毫米
  • *大數量準直器:4
  • 濾光片:初級 5 (2x Al, Ti, Mo, Ni) ,以及1個空位
  • 可選*小準直器:0.01 x 0.25 mm
  • FT Connect 軟件
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FT160
  • 高分辨率 SDD
  • 元素范圍: 鋁 - 鈾
  • 樣品艙設計:開閉式
  • XY 軸樣品臺選擇:自動臺、晶片樣品臺
  • *大樣品尺寸:600 x 600 x 20 毫米
  • 濾光片:5
  • 毛細管聚焦光斑尺寸< 30μm
  • XRF Controller 軟件